蛍光X線膜厚計

蛍光X線膜厚計とは

微小部に微弱なX線を当てた際に発生する二次X線（蛍光X線）を検出することで、微小部の膜厚を非破壊で測定する装置。
主にめっきの厚さを測定する際に用いる。

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