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外観検査装置とは
検体の外観上の欠陥や形状を調べる装置。
対象検体は多岐にわたり、樹脂トレー、FPD基板などがあるが、利用頻度が多いのはチップ(チップ外観検査装置)やウェハ(ウェハ外観検査装置)、IC外観検査装置といった、半導体関係の部品となる。
検体の外観上の欠陥や形状を調べる装置。
対象検体は多岐にわたり、樹脂トレー、FPD基板などがあるが、利用頻度が多いのはチップ(チップ外観検査装置)やウェハ(ウェハ外観検査装置)、IC外観検査装置といった、半導体関係の部品となる。