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プレッシャークッカー試験装置とは
供試体に高熱(一般的に100℃以上)・高湿度のストレスを短時間かつ集中的に加えることで、長期間にわたる熱的・湿度的ストレスにさらされた場合の耐久性を評価する装置。
半導体などといった電子部品の動作寿命試験や耐湿性試験などに用いる。
高度加速寿命試験装置、HAST試験機(HAST試験装置)、HASTチャンバーなどとも呼ばれる。
供試体に高熱(一般的に100℃以上)・高湿度のストレスを短時間かつ集中的に加えることで、長期間にわたる熱的・湿度的ストレスにさらされた場合の耐久性を評価する装置。
半導体などといった電子部品の動作寿命試験や耐湿性試験などに用いる。
高度加速寿命試験装置、HAST試験機(HAST試験装置)、HASTチャンバーなどとも呼ばれる。