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イオンマイグレーション試験装置
| 会社名称 | J-RAS株式会社 |
|---|---|
| 概要情報 | プリント配線板や電子材料等に重要な評価項目である絶縁信頼性（イオンマイグレーション）等に関連した商品を開発し、それらの販売・受託試験を通して、日本の品質・信頼性に貢献してまいります。 |
製品情報
高性能導通信頼性テスター『RTｍ-100シリーズ』
50m秒／CHの高速スキャン、計測値の変動100μΩ以内の高安定性
主にヒートショック試験槽内に設置された、試験サンプルの抵抗値をモニタリングする多チャンネル導通信頼性評価装置です。
ミリΩレベルの抵抗値をより速く、より正確に計測！
ノイズが少なく、安定したデータが得られ、プリント基板のパターン、はんだ接合部などの導通信頼性試験に最適です。
マイグレーションテスター『ECM-Light』
機能を簡素化して価格を抑えた新コンセプトの絶縁信頼性試験装置
自作テスターに比べて試験の信頼性を大幅に向上。工数削減にも大きく貢献します。
高機能なテスターを必要としない、簡易的な試験が多い場合にも最適なテスターです。
高電圧絶縁信頼性評価装置『HVUsシリーズ』
- 最大3kVの高電圧出力により高電圧デバイスの評価が可能です。
- チャンネル個別フィードバック制御で正確で安定した電圧を印加します。
- 独自の検出回路で瞬間的なサンプルの絶縁劣化を高速検知＆印加電圧OFFします。
- トライアキシャル計測ケーブル採用でノイズに強くpAオーダーの電流計測が可能です。
- 故障の原因となる機械式リレーを一切使わず高い信頼性を確保しています。
エレクトロケミカルマイグレーションテスター『ECM-100』
ハイサイド計測の採用により、試料へのはんだ付け工数が大幅削減。
圧倒的な使い勝手の良さを実現しました。
印加と計測はch毎に完全独立で16msの計測間隔を達成。最大400chまでの増設が可能です。
