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ラッチアップテスタとは

ラッチアップとは、CMOSデバイスにおいて静電気やノイズ、入出力端子に対しての電源電圧範囲外の電圧の印加などにより、電源と接地の間に大電流が流れる現象。
ラッチアップテスタはこの現象に対する耐性を試験する装置。
電圧の印加方法には定電流パルス印加方法、過電源電圧印加方法、ESDパルス印加方法がある。

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