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繰り返し曲げ試験装置とは

供試体を一方向に力を加えてある程度変形させた後、逆方向に同じ荷重を加えることで1サイクルとし、これを規定回数だけ繰り返して行う試験装置。
繰り返し曲げられることにより起こる供試体の破壊開始時の荷重(応力)を調べることで、供試体の強度を計測する。
供試体となるのは半導体デバイスの基板や光ファイバーケーブルなど。

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