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XAFSとは

X線吸収端近辺での原子のゆらぎを測定することで、物質の環境に関係なく原子・分子レベルでの特定原子の周囲の微細構造を観察する装置。
中心元素を特定できるという利点があるが、その反面、測定の際に高出力のX線を必要とする。
測定対象となるのは触媒試料、薄膜試料、硝子試料、液体試料、鉱物試料で、いずれも従来のX線回折装置では測定困難なものも観察できる。

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