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装置名:TEMとは |
薄膜試料に電子線を透過させ、試料中で原子により散乱・回折された電子を観察する顕微鏡。物質の内部構造を観察でき、微細構造の解析に最適。また、検出器(EDS)を使用すると定性分析も可能。電子エネルギー損失分光法(EELS)とエネルギーフィルター(EF)の併用、エネルギー分散型X線分光法(EDX)と併用することにより、軽元素から重元素までの分析が可能となる。透過型電子顕微鏡とも称する。 |
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| 株式会社大同分析リサーチ 【愛知県名古屋市】 |
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| 分析調査のエキスパート。化学分析(無機分析・有機分析)、物理測定、材料評価、実験試料作製、環境分析など各種の技術を提供します。 |
| 旭化成株式会社 基盤技術研究所 【静岡県富士市】 |
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| 工程解析・競合製品解析・不良解析・反応解析など。化成品樹脂、機能化学品、医薬・医療、住宅、建材、エレクトロニクス材料、LSI、繊維等広範囲の領域をカバーしています。 |
| ナノサイエンス株式会社 【東京都豊島区】 |
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| 【表面分析受託サービス】表面分析サービス、二次イオン質量分析(SIMS)、グロー放電質量分析(GDMS)、低エネルギーX線分析(LEXES)、標準試料販売等。 |
| 九州電力 関連会社 【福岡県福岡市】 |
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| 【得意分野】エネルギー・環境・リサイクルの分野で、コンサルティング・研究受託。研究設備レンタルも実施。 |
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