二次イオン質量分析計

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二次イオン質量分析計の情報

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酸素等のイオン（一次イオン）を加速して固体試料表面に照射し、散乱して飛び出してきた粒子のうち電荷を持つ粒子（二次イオン）の質量を分析する装置。この装置を利用することにより試料の組成を求めることができる。略称SIMS、別称イオンマイクロプローブ。

二次イオン質量分析計の取扱企業募集中！

セイコーアイ・テクノリサーチ株式会社　　【千葉県松戸市】		設備情報一覧
ミクロの世界から環境分析まで幅広い知識と技術あり。開発支援や評価試験、部材の安全性や作業環境の測定、品質保証やトラブル対策を行います。

旭化成株式会社　基盤技術研究所　　【静岡県富士市】		設備情報一覧
工程解析・競合製品解析・不良解析・反応解析など。化成品樹脂、機能化学品、医薬・医療、住宅、建材、エレクトロニクス材料、LSI、繊維等広範囲の領域をカバーしています。

ナノサイエンス株式会社　　【東京都豊島区】		設備情報一覧
【表面分析受託サービス】表面分析サービス、二次イオン質量分析（SIMS）、グロー放電質量分析（GDMS）、低エネルギーX線分析（LEXES）、標準試料販売等。

株式会社コベルコ科研　　【神戸市中央区】		設備情報一覧
【得意分野】構造評価・材料評価・振動試験・音響試験・流動伝熱評価・塑性加工評価・電磁場評価

株式会社富士電化環境センター　　【静岡県湖西市】		設備情報一覧
【得意分野】信頼性試験、VOC調査、障害品解析、RoHS/ELV、環境調査、土壌調査、シックハウス物質測定等。