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XRDとは

X線を粉末または固体試料(主に粉末)に照射した際に散乱するX線の強度を測定し、物質中の原子・分子配置の周期性を調べる装置。
XRDを用いると試料の結晶構造解析や物質の同定、熱振動、散漫散乱の解析が可能。
X線回折装置とも呼ばれる。

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